星云功率半導體老化測試系統
星云功率半導體老化測試系統是一款針對半導體產品方向的做高溫反偏，柵極反偏老化測試設備，用以評估功率半導體的可靠性。
應用場景
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新能源汽車 -
儲能 -
工業與通訊 -
航天航空 -
醫療設備
產品亮點
測試精度高
采樣速率高
波形實時顯示
數據直觀
安全控制策略
保護使用者安全
實時故障偵測
ms級數據自動儲存
基礎參數
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產品型號NEPS-HTB2000015-V001
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高壓源范圍：0~2000V
精度：0.1%+100mV -
HTGB:IGES(IGDS)范圍：0.1nA~15mA
精度 0.5%±2LSB
分辨率：10pA -
HTRB/H3TRB:ICES(IDSS)范圍：1μA~10mA
精度：0.5%±2LSB
分辨率：1μA -
溫箱溫度范圍(環境溫度+20)℃～+300℃
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溫箱波動度≤100℃時：0.4℃
≤200℃時：0.4℃
≤300℃時：0.8℃ -
溫箱溫度偏差≤100℃時：±1.5℃
≤200℃時：±2.0℃
≤300℃時：±3.0℃ -
電源分區最大支持8個電源分區
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交流輸入電壓:220±10%
頻率:50/60Hz±3Hz
